장비현황
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센서 복합테스트 장비 Diverse sensor testing system
- 시설장비등록번호
- NFEC-2024-02-295014
- 제작사명 모델명
- Spea H3580
- 표준분류
- 전기/전자장비 > 측정시험장비 > 광/LED/반도체/디스플레이측정시험장비
※ 정보출처 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr, T.1670-0925)
설치장소 : (재)부산테크노파크
장비문의 : 051-558-5414
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장비설명
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1. Inertial Sensor Stimulus (주장비)
- Low g Accelerometer IC, Gyroscope IC 시험지원
- 일체형 Accelerometer + Gyroscope
2. MEMS Sensor IC Pick & Place Handler (주장비)
- IC In/Output media: Tray Input module , Tray output module
- 49 or more Site Picker built
- IC size : 2x2 mm ~7x7mm or more
- Handling PKG: QFP, LGA, QFN, BGA, PGA, TQFP, SOXXX, SOTXXX
- Pressure , Magnetic, Gyroscope, Accelerometer, Humidity Sensor docking
3. Digital & Analog pin, Low Power Pin Electronics (부속장비)
- 384 or more Channel analog with LF Digital , 5MHz or more
- 384 or more Channel Digital pin with Per Pin PMU ; 50MHz or more
4. Accessories (Test sockets, Load board, Test program, Diagnostic & Calibration kit) (보조장치)
- 98 or more Site Test Sockets, Busan Technopark assigned IC
- Busan Technopark assigned IC Load Board
- Test Program (Busan TechnoPark IC)
- Handler Calibration Kits
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1. Inertial Sensor Stimulus (주장비)
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구성 및 성능
- MEMS 구조의 각종 센서 반도체의 빠른 검사를 위하여 제품에 전력 인가 및 전자적 통신을 위한 입출력 및 계측 시스템인 검사 설비의 사양을 보완하고, 자동차 automotive에 확대 채용 예정인 관성 센서(가속도 및 회전각)의 물리적 입력 및 환경을 조성하는 자극인가시스템 (Stimulus)과 동시에 검사할 수 있는 IC handler system으로 구성됨