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장비현황

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고분해능 전계방출형 주사전자현미경(본체) High-Resolution Field-Emission Scanning Electron Microscope

제작사명 모델명
Hitachi High-Tech SU5000
표준분류
광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경

설치장소 : (재)부산테크파크 첨단융복합소재센터 화재시험동

장비문의 : 051-831-7859

  • 장비설명

    • • 전자빔을 시료 표면에 주사하여 발생되는 2차 전자와 후방산란 전자를 수집하여 시편의 형상, 표면의 모폴로지 및 조성을 나노 수준으로 분석하는 연구장비
  • 구성 및 성능

    • • Resolution - 1.2 nm @ 30 kV - 3.0 nm @ 1 kV • Magnification : ×30 ~ ×1,500,000 (1,280 × 960 pixels on display) • Probe current : max. 200 nA • Accelerating voltage : (0.5 ~ 30) kV • Specimen stage : 5-axis motorized stage • Specimen size : max. 200 mm(Ø), 80 mm(H)